MM-L400A - レーザウエルドモニター - レーザ溶接用モニター

アマダレーザ溶接機レーザウエルドモニター NEW

レーザウエルドモニター　MM-L400A

レーザ溶接の良否判定や
予防保全に最適！

比較判定を特長とするインプロセスの溶接モニターです。「ワーク間のギャップ」「表面の汚れ」「フォーカスずれ」「溶接の穴あき」など、レーザ溶接の品質管理として様々な活用ができます。

初めてレーザ溶接機導入を検討中のお客様はもちろん、品質管理にお悩みの場合にも最適です。

良否判定例　
・ワーク間のギャップ　・表面の汚れ　・フォーカスずれ　・溶接の穴あき

取扱説明書ダウンロード　申し込みフォーム

特長

■ 特長① 比較判定: 予め設定した基準波形（OK波形）と実測波形を比較することで、「通常とは異なる波形＝溶接の異常」を検出します。
MM-L400AはOK/NGの判定機能を備え、その判定結果は溶接の良否判定結果※と見なせます。
※事前検証が必要です。

検証例
：ギャップの無い溶接サンプル（OK品）の波形を基準として登録し、それと比較してギャップの有る溶接サンプルをNG品
　として判定可能か検証しました。測定対象は可視光、判定はエンベロープ、サンプルの材質はSUS304、板厚はt0.5mmです。

↓イメージ↓　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　↓ギャップの無いOK品を基準として、エンベロープを設定↓; 検証結果
：エンベロープ判定で「下限NG」と判定しました。
　ギャップから溶融金属が抜けたことで溶接部表面の熱量が低下し、波形の高さが下がったことが要因として考えられます。

↓判定画面全体↓　　　　　　　　　　　　　　　　　　　↓波形表示を拡大↓
■ 特長② 3種類の光を測定可能　: MM-L400Aでは、溶接箇所で発生する「放射光（近赤外光）」「反射光」「可視光（プラズマ）」という3種類の光を測定し、
それらの強度変化を比較することができます。従来機よりも測定対象が増えたことで、溶接の異常を見逃しにくくなりました。

　　　　　　　　
■ 特長③ 使いやすい専用操作ソフト: 　付属の専用操作ソフト「MS-Viewer」で、より直感的に様々な設定や測定が可能です。
　測定開始トリガーやセンサー感度（ゲイン）の調整、エンベロープの設定、測定波形の比較、さらにはI/Oの使用状況まで、
　モニタリング装置を使い慣れていない方でも簡単に操作できます。; 　　　　　
■ 特長④ 同軸/外付けの両方で測定可能: 　専用受光ユニットを当社製CCD付き出射ユニット及びスキャナーヘッドに取付可能で、「外付け（外部受光ユニット）」、　「同軸取付（同軸受光ユニット）」、及びその両方を選択することができます。

　出射ユニット　　　　　　　　　　スキャナーヘッド　　　　　　　　　スキャナーヘッド　　　　　　スキャナーヘッド
　同軸＆外付け　　　　　　　　　　外付け　　　　　　　　　　　　　　同軸　　　　　　　　　　　　同軸＆外付け
■ 特長⑤ スキャナーヘッド対応: 出射ユニットへ取り付けるタイプの受光ユニットは測定エリアが数ミリの“点”での測定でしたが、スキャナーヘッド対応の受光ユニットはfΘレンズの加工エリアに合わせて広範囲の測定ができるので“面”での測定が可能になりました。
当社ラインナップ(GWMシリーズ＆CL-Hシリーズ)に対応しています。

　　　　　　　　出射ユニット（固定光学系）　　　　　　　　　　スキャナーヘッド; 　　　　　　　　　
■ 特長⑥ DX/GXに対応する先進的なデータ通信機能: Ethernet通信※に対応し、外部機器との接続やデータ管理を実現します。※LAN通信です。産業用Ethernetではありません。

　　　　　　　　　
■ 特長⑦ CE対応
■ 特長⑧ 軽量コンパクトデザイン: 業界最小クラスの軽量コンパクト設計です。製造ラインへの組み込み時の設置スペースを削減します。
■ 特長⑨ 高分解能: 最小分解能1μsでのモニタリングが可能。CW（連続）発振のみならずパルス発振にも対応します。

システムアップ例

ロットNO.などを読み取り、MM-L400Aで取得した製造日時、加工条件、判定結果などを紐づけることでトレーサビリティを実現します。システムソリューションとして導入いただくことで、自動化による高い生産性と、MM-L400Aによる確かな品質管理を両立します。

　　　　　　　レーザウエルドモニター搭載　レーザ溶接システム例

主な仕様

商品の仕様をご紹介します。

機種名		MM-L400A
本体	寸法	486(W)×597(D)×107(H) mm
	最大質量	約22kg
	入力電源電圧	単相AC100～240V　50/60Hz
	消費電力	110W以下
	外部制御インターフェース	50pin　1.27mmピッチ標準コネクタ（メス）
	入力チャンネル	最大6ch+外部アナログ入力2ch
	最小/最大測定時間（分解能）	1000μs-4ms（1μs）/1000μs‐400s（1ms）
	判定機能	エンベロープ（上下限）、積分判定（最大5ヶ所/1波形）
	動作周囲温度/湿度	温度：5～40℃/湿度：85%RH以下（結露なきこと）
同軸受光ユニット ※1	対応機種	当社製CCDカメラ付き出射ユニット　 GWM-STD、GWM-STD2、GWM-Kシリーズ、CL-Hシリーズ
	ガイド光	645～660nm（ガイド光がONの時は測定できません）
	検出波長	放射光（1300～1700nm）、反射光（1060～1080nm）、可視光（400～800nm）
	冷却方式	空冷　※3
	動作周囲温度/湿度	温度：5～40℃/湿度：85%RH以下（結露なきこと）
外部受光ユニット	対応機種	当社製出射ユニット　※2
	ガイド光	645～660nm（ガイド光がONの時は測定できません）
	検出波長	放射光（1300～1700nm）、反射光（1060～1080nm）、可視光（400～800nm）
	冷却方式	空冷　※3
	動作周囲温度/湿度	温度：5～40℃/湿度：85%RH以下（結露なきこと）
スキャナー受光ユニット	対応機種	GWM-STD、GWM-STD2、GWM-Kシリーズ、CL-Hシリーズ　※2、※4
	ガイド光	使用不可
	検出波長	放射光（1300～1700nm）、反射光（1060～1080nm）、可視光（400～800nm）
	冷却方式	空冷　※3
	動作周囲温度/湿度	温度：5～40℃/湿度：85%RH以下（結露なきこと）

仕様及び外観は予告なく変更する場合がありますので、あらかじめご了承下さい。

※1：固定光学系、スキャナーヘッドどちらも共通仕様です。
※2：他社製品への取り付けについては、弊社までお問い合わせ下さい。
※3：受光ユニットが発熱する場合は、お客様にて水冷ジャケット等の冷却対策や反射光対策などを取る必要があります。
※4：別途、受光ユニット4個を固定するためのブラケットが必要となります。